最新材料分析测试方法综合实验模板

最新材料分析测试方法综合实验模板

ID:145966

时间:2023-05-06 05:56:07

上传者:曹czj

人的记忆力会随着岁月的流逝而衰退,写作可以弥补记忆的不足,将曾经的人生经历和感悟记录下来,也便于保存一份美好的回忆。写范文的时候需要注意什么呢?有哪些格式需要注意呢?下面是小编为大家收集的优秀范文,供大家参考借鉴,希望可以帮助到有需要的朋友。

材料分析测试方法综合实验篇一

2、差热分析:热分析是研究热力学参数或物理参数与温度变化关系分析的方法,可分性材料晶型转变、熔融、吸附、脱水、分解等物理性质,在物理、化学、化工、冶金、地质、建材、燃料、轻纺、食品、生物等领域得到广泛应用。通过热分析技术的综合应用可以判断材料种类、材料组分含量、筛选目标材料、对材料加工条件、 使用条件做出准确的预判,是材料分析过程中非常重要的组成部分。

3、元素分析:元素分析是研究被测元素原子的中外层电子由基态向激发态跃迁时吸收或者放出的特征谱线的一种分析手段,通过特征谱线的分析可了解待测材料的元素组成、化学键、原子含量及相对浓度。元素分析针对材料中非常规组分进行前期元素分析,辅助和佐证色谱分析,是材料分析中必不可少的环节。

4、光谱分析:光谱分析是通过对材料的发射光谱、吸收光谱、荧光光谱等特征光谱进行研究以分析物质结构特征或含量的方法,光谱分析根据光的波长分为可见、红外、紫外、x射线光谱分析。利用光谱分析可以精确、迅速、灵敏的鉴别材料、分析材料分子结构、确定化学组成和相对含量。是材料分析过程中对材料进行定性分析首要步骤。

5、色谱分析:是材料不同组分分子在固定相和流动相之间分配平衡的过程中,不同组分在固定相上相互分离,已达到对材料定性分析、定量的'目的。根据分离机制,色谱分析可以分为吸附色谱、分配色谱、离子交换色谱、凝胶色谱、亲和色谱等分析类别,通过各种色谱技术的综合运用,可实现各种材料的组分分离、定量、定性分析。

6、联用(接口)技术:通过不同模式和类型的热分析技术与色谱、光谱、质谱联用(接口)技术实现对多组分复杂样品体系的分析,可完成组分多样性、体系多样性的材料精确、灵敏、快捷的组分、组成测试,是非常规材料剖析过程中不可或缺分析方法。

材料分析测试方法综合实验篇二

材料分析测试方法名词解释

1、连续x射线谱:由波长连续变化的x射线构成,也称白色x 射线或多色x射线。

2、短波限:连续x射线谱在短波方向的最短波长,即光子一次碰撞就耗尽能量所产生的x光子的波长,称为短波限λ0。

3、吸收限:指x射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量,如入射光子的能量必须大于或等于将k电子从无穷远移至k层时所做的功w,称此时的光子波长λ为k系的吸收限。

4、x射线强度:垂直x射线传播方向的单位面积上在单位时间内所通过的光子数目的能量总和。

5、特征x射线谱:由一定波长的若干x射线叠加在连续谱上构成,也称单色x射线和标识x射线。

6、特征x射线:原子内层电子受到激发后,在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能量和波长的一种电磁波。

7、光电效应:光与物质相互作用产生电子的现象。x射线与物质的相互作用可以看成是x光子与物质中原子的相互碰撞。当x光子具有足够能量时,可以将原子内层电子击出,该电子称为光电子。原子处于激发态,外层电子向内层空位跃迁,多余能量以辐射方式释放,即二次特征x射线或荧光x射线。这一过程即为x射线的光电效应。

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8、倒易点阵:在晶体点阵(正点阵)基础上按一定对应关系构建的一个空间点阵。方向—倒易基矢垂直于正点阵中异名基矢构成的平面长度—倒易基矢与正点阵矢量间是倒数关系

9、倒易矢量:由倒易原点指向任意倒易阵点的方向矢量。 10、布拉格方程:d-衍射晶面间距;θ-掠射角;λ-入射线波长;n-反射级数

11、反射球:以波矢量大小的倒数(1/λ)为半径,作一个球面,从球心向球面与倒易点阵的交点的射线为波的衍射线,这个球面称为反射球,也称厄瓦尔德球。

12、倒易球:多晶体由很多小晶粒(亚晶粒)构成,这些晶粒在空间的取向各不相同。这些取向不同的`晶粒中同名的(hkl)晶面对应的倒易矢量的长度都为1/dhkl,对应的倒易点在空间构成一个半径为1/dhkl的球,即倒易球。

13、劳厄法:用连续x射线照射单晶体的衍射方法。

14、周转晶体法:用单色x射线照射转动的单晶体的衍射方法。

15、粉末衍射法(多晶法):用单色x射线照射粉末多晶体的衍射方法。

16、f :原子散射因子。 aa一个原子散射波振幅f ae一个电子散射波振幅

17、f:以一个散射波振幅为单位的晶胞散射波合成振幅。

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nab晶胞内各原子散射波合成振幅ae一个电子散射波振幅ij

18、系统消光:由于|f|2=0引起的衍射线消失的现象称为系统消光。分为两类:点阵消光和结构消光。 fjej1fjej1ni2hxjkyjlzj

19、点阵消光:只决定于晶胞中原子位置的消光现象。

20、结构消光:在点阵消光的基础上因结构基元内原子位置不同而产生的附加消光(如金刚石结构)。

21、|g|2称为干涉函数,又称形状因子。

22、晶带:在晶体结构或空间点阵中, 与某一取向平行的所有晶面均属于同一个晶带。

23、聚焦圆:x射线衍射仪法中,样、光源和光阑必须位于同一圆周上才能获得足够高的衍射强度和分辨率。此圆周称为聚焦圆。

24、辐射探测器:接收样品发射的x射线(x光子),并将光子信号转变为电脉冲信号(瞬时脉冲)的装置。

25、闪烁计数器:利用x射线作用在某些物质(磷光体)上产生可见荧光,并通过光电倍增管来接收的探测器。

26、物相分析:确定物质的相组成和各组成相的相对含量,前者称物相定性分析,后者称物相定量分析。

27、透射电子显微镜(tem):以波长很短的电子束作为照明源,用电磁透镜成像的一种具有高分辨本领、高放大倍数的电子光学仪器。

28、分辨率:把两个airy斑中心距离等于airy斑半径时物平面上相应两个物点间的距离定义为透镜能分辨的最小间距,即透镜分辨率。

29、球差:由于电磁透镜近轴区域和远轴区域磁场对电子折射能力不同而产生的一种像差。

30、像散:由于透镜磁场的非旋转对称引起的像差。

31、色差:由于成像电子的能量不同或变化,从而在透镜磁场中运动轨迹不同,不能在一点聚焦而形成的像差。

32、景深:成像时,像平面不动(像距不变),在满足成像清晰的前提下,物平面沿轴线前后可移动的距离。

33、焦长:成像时物点固定不动(物距不变),在满足成像清晰的前提下,像平面沿轴线前后可移动的距离。

34、消像散器:对电磁透镜磁场椭圆度进行补偿矫正的仪器。

35、高阶劳厄斑点:高阶劳厄区倒易杆与反射球相交形成的斑点。过倒易原点的倒易面——零层倒易面,也叫作零阶劳厄区。

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